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本裝置與XJ4810/XJ4810A主機配合使用，能對國內(nèi)、外不同類型的場效應管進行單管或對管測試。

上海新建　XJ4822型CRT讀出半導體管特性圖示儀 XJ4822 CRT讀出圖示儀，外觀新穎，技術*，操作方便，能對各類二極管、三極管、場效應管等靜態(tài)參數(shù)測試。光標測量數(shù)字讀出給用戶帶來方便，二簇曲線顯示對器件各類參數(shù)配對尤為方便。測試大功率器件時，可采用單次方式。配3KV測試臺后Vc可達3KV。 ·光標測量，字符讀出，使各種靜態(tài)參數(shù)包裝β、Gm均可光標測量字符讀出。 ·雙族顯示用于對各種參數(shù)配對 ·Z大測試功率近100W ·階梯電壓±10V＋△VB±5V內(nèi)阻低特別適宜大功VMOS管測試 ·

上海新建　XJ4810型半導體管特性圖示儀 XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數(shù)。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。

上海新建　XJ4810A型半導體管特性圖示儀 XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數(shù)。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。 集電極掃描信號

上海新建　QT2型半導體管特性圖示儀 QT2型半導體管特性圖示儀可測量二極管、三極管的低頻直流參數(shù)，Z大集電極電流超過50A，能滿足500VA以下器件的測試。本機附有高壓測裝置，可對5KV以下的二極管、三極管進行擊穿電壓及反向漏電腦測試。其測試電流Z高靈敏度可達0.5μ/div